GCZSM-B 三階非線性極化率的(de)Z掃描法參數測量實驗系統
一(yī)、産品簡介
測量光緻非線性折射率是研究介質三階非線性光學(xué)性質的(de)重要手段,而測量非線性折射率的(de)方法已有很多:非線性幹涉技術、簡并四波混頻、自(zì)衍射、橢偏術及光束畸變測量等。20世紀90年(nián)代初發展起了一(yī)種Z掃描法,這種測量方法不僅可(kě)以用單光束測量,而且可(kě)以用同一(yī)裝置測出非線性折射率和(hé)非線性吸收系數,即三階非線性極化率的(de)實部和(hé)虛部,因而受到人們的(de)青睐。
二、知識點
非線性吸收、三階非線性效應、光克爾效應、光束的(de)自(zì)聚焦
三、涉及課程
非線性光學(xué)、光電檢測、工程光學(xué)、應用光學(xué)、物理(lǐ)光學(xué)
四、實驗內(nèi)容
1、 Z掃描法測量非線性折射率系數
2、Z掃描法測量非線性吸收系數